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8-羥基喹啉的晶體結(jié)構(gòu)與X射線衍射圖譜解析

發(fā)表時(shí)間:2025-12-18

8-羥基喹啉(8-HQ,CHNO)是兼具芳香性與配位活性的有機(jī)小分子,其晶體結(jié)構(gòu)與X射線衍射(XRD)特征是理解其性能與應(yīng)用的核心,以下為核心解析要點(diǎn)。

一、晶體結(jié)構(gòu)核心特征

8-羥基喹啉晶體以“分子平面性+氫鍵驅(qū)動(dòng)堆積”為核心,存在單斜晶系(常見,空間群P2/n)與正交晶系(空間群Fdd2)兩種主要晶型,關(guān)鍵特征如下:

1. 分子構(gòu)型與內(nèi)作用:分子由喹啉環(huán)與鄰位羥基構(gòu)成,共軛π鍵體系使分子高度平面化;內(nèi)部存在O-HN分子內(nèi)氫鍵(鍵長2.6~2.8 Å),鎖定羥基取向并增強(qiáng)分子剛性,為配位活性奠定基礎(chǔ)。

2. 晶系與晶胞參數(shù):單斜晶系典型晶胞參數(shù)為a=7.0~7.5Å、b=14.5~15.0Åc=10.0~10.5Å,β=100°~102°,晶胞含4個(gè)分子(Z=4);正交晶系則呈三邊垂直特征(α=β=γ=90°),分子排列具二重軸對稱性。

3. 堆積模式:以氫鍵二聚體為基本單元(相鄰分子通過O-HN氫鍵連接),結(jié)合喹啉環(huán)間的強(qiáng)π-π堆積(最短CC3.2997 Å)及C-H⋯π次級作用,形成層狀致密結(jié)構(gòu),兼具剛性與韌性。

二、XRD圖譜關(guān)鍵解析

XRD分析以Cu Kα射線(λ=1.5418 Å)為常用光源,通過衍射峰位置(2θ)、強(qiáng)度及半高寬推導(dǎo)結(jié)構(gòu)信息,核心特征如下:

1. 純品8-羥基喹啉(單斜晶系)特征:圖譜呈尖銳衍射峰(結(jié)晶度高,半高寬<0.3°),分三個(gè)關(guān)鍵區(qū)間:低角度區(qū)(2θ=9°~16°)的弱特征峰(如9.1°、10.5°)對應(yīng)長周期晶面,是晶系判斷依據(jù);中角度區(qū)(2θ=15°~28°)為“指紋區(qū)”,22.2°與25.6°為極強(qiáng)峰(強(qiáng)度比≈1.2),對應(yīng)氫鍵二聚體密集晶面;高角度區(qū)(2θ=29°~35°)的弱峰(如29.0°、30.73°)可評估結(jié)晶完整性。

2. 金屬配合物特征變化(以AlQ₃為例):配位后圖譜顯著重構(gòu),特征峰向高角度偏移(如22.2°→22.7°),因配位鍵縮短分子間距導(dǎo)致d值減?。怀霈F(xiàn)新特征峰(如18.8°、24.5°),峰形更尖銳,反映晶體堆積更有序,可驗(yàn)證合成有效性。

3. 核心應(yīng)用:通過與標(biāo)準(zhǔn)圖譜對比鑒別晶型,利用雜峰判斷純度,通過峰面積比計(jì)算結(jié)晶度(純品>85%),并可實(shí)時(shí)監(jiān)測制備工藝中晶型變化以優(yōu)化參數(shù)。

三、解析注意事項(xiàng)

需結(jié)合制備工藝(溶劑、冷卻速率)匹配標(biāo)準(zhǔn)圖譜以規(guī)避多晶型干擾;8-羥基喹啉樣品需干燥以避免水分掩蓋弱峰;對比分析時(shí)需統(tǒng)一儀器參數(shù),并結(jié)合FT-IR、單晶衍射等技術(shù)互補(bǔ)驗(yàn)證。

本文來源于黃驊市信諾立興精細(xì)化工股份有限公司官網(wǎng) http://www.ztjxw.cn/

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